Charakterisierung einer CMOS-Kamera

Praxistraining (EN)

Merkmale, Möglichkeiten, Grenzen und Optimierung von CMOS-Sensoren

07. - 08. September 2016

Referent: Dr. Albert Theuwissen

 

Das Training bezieht sich auf die Gewinnung sämtlicher Leistungsdaten einer Festspeicherkamera, ohne Kenntnisse über das Innenleben der Kamera zu besitzen. Die vermittelten Techniken eignen sich ideal zur Überprüfung der Aktivitäten Ihrer Konkurrenz oder zur Bewertung der Leistung Ihrer eigenen Kamera im Vergleich zu anderen auf dem Markt befindlichen Produkten. Die Anzahl der Eigenschaften einer Kamera, die im Dunklen (1. Trainingstag) sowie bei Licht (2. Trainingstag) gemessen werden kann, ist erstaunlich. Die Teilnehmer arbeiten in zweier Teams und nach einer kurzen Einführung, in der sie mit der Hard- und Software vertraut gemacht werden, beginnen sie mit der eigenständigen Durchführung der Kamerabewertung.
Das 2-tägige Seminar wird von Herrn Dr. Theuwissen auf Englisch gehalten.

Dr. Albert Theuwissen ist Autor des Buchs „Solid-State Imaging with Charge-Coupled Devices“, die maßgebliche Lektüre im Bereich Solid-State Imaging. In März 2001 bekam er die Part-time Professur an der Delft Universtät für Technologie in den Niederlanden übertragen, wo er hauptsächlich PhD Studenten bei den wissenschaftlichen Arbeiten zu CMOS Sensoren unterstützte. In April 2002 wurde Dr. Theuwissen CTO der DALSA Corp., um dann seinen Aufgabengebiet als Chief Scientist zu erweitern. Im September 2007 verließ er die DALSA Corp. und gründete die Harvest Imaging, die Schulungen, Coachings und Unterrichte im Solid-State Imaging Bereich anbietet. In 2008 erhielt Dr. Theuwissen die SMPTE (Society for Motion Pictures and Television Engineers) Fuij Goldmedaille für seinen einzigartigen Beitrag zur Forschung, Entwicklung und Fortbildung im Bereich Solid-State Bildverarbeitung.

Detaillierte Informationen zu diesem Seminar finden Sie hier.

Seminarziel

  • Überblick über Möglichkeiten, Grenzen und Optimierung von CMOS Sensoren
  • Darstellung von Charakteristika der Bildsensoren, wie Dunkelstrom, Anti-Blooming, Global-shutter, Rolling-shutter, Störereignisse und zeitlichen Rauscharten
  • Praktische Beispiele der Sensor-Spezifikationen und Lösungsstrategien für die Praxis

Zielgruppe

Techniker, Facharbeiter und Ingenieure, die CMOS Sensoren nutzen und mehr Informationen benötigen, um systematisch und zielgerichtet Messungen und Charakterisierungen vornehmen zu können.  

Kosten

1.490,00 € (plus VAT) pro Person,
inkl. Seminarunterlagen und Verpflegung. 

Termin und Ort

07. bis 08. September 2016
09:00 - 17:00 Uhr

FRAMOS Office Taufkirchen:
Mehlbeerenstr. 2, 4. OG, 82024 Taufkirchen

Wir bitten Sie, sich bei Interesse so schnell wie möglich, spätestens aber bis 29. August verbindlich für das Seminar anzumelden.

Anmeldung

Ja, ich möchte gerne am folgenden FRAMOS Seminar teilnehmen:
Charakterisierung einer CMOS-Kamera - Praxistraining, mit Dr. Albert Theuwissen

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