Charakterisierung dig. Kamerasysteme nach EMVA 1288 Standard 3.1 (EN)

Grundlagen, praktische Durchführung and Anwendungen

 

 

06.12. - 07.12.2016

Referent: Prof. Dr. Bernd Jähne

 

Kennen Sie das? Sie wollen Kameras vergleichen und objektiv herausfinden, welche von beiden für ihre Applikation am besten geeignet ist. Leider sind die Datenblätter völlig inkompatibel, so dass Ihnen nichts anderes übrig bleibt die Kameras mühsam selber untersuchen zu müssen. Dieses gravierende Manko hat die Europäische Maschine Vision Industrie erkannt und über dem EMVA- Verband den EMVA 1288 Standard initiiert. Dieser ist inzwischen weltweit auf Interesse gestoßen, weil er es leicht macht, Kameras und Bildsensoren objektiv vergleichend zu bewerten, und sich als unverzichtbares Hilfsmittel erwiesen hat, um die Entwicklungszyklen für Sensoren und Kameras zu beschleunigen und die Qualität zu optimieren.

Der EMVA 1288 Standard betrachtet die Kamera ohne Optik und führt objektive Kriterien für die Beurteilung der Empfindlichkeit, des Rauschens, der spektralen Charakteristik, des Dunkelstroms, der Homogenität des Sensors und bei der Charakterisierung defekter Pixel. Der EMVA 1288 Standard umfasst Flächen- als auch Zeilenkameras, monochrome und Farbsensoren. Die neue Release 3.0 wurde im November 2010 endgültig verabschiedet. In dem Seminar wird auf diese aktuelle Version ausführlich eingegangen, viele praktische Messbeispiele diskutiert und ein Ausblick auf die Weiterentwicklung des Standards gegeben.

Detaillierte Informationen zu diesem Seminar finden Sie hier.

Seminarziel

Ziel des Seminars ist es, Anwendern des EMVA 1288 Standard das Wissen zu vermitteln, die Messergebnisse zu verstehen und die Ursachen von Abweichungen von den Idealkurven herauszufinden. Anhand von zahlreichen Fallbeispielen (gerne auch von den Teilnehmern eingebrachte) werden alle Messkurven des Standards besprochen und typische Problemfälle diskutiert.

Grund- und Aufbaukurs können auch getrennt gebucht werden.

 

Zielgruppe

Kameraanwender und Kamerahersteller für die industrielle Bildverarbeitung sowie im Security- , Astronomie- oder Scientificbereich.  

 

Kosten

700,00 € zzgl. MwSt. pro Tag und Person oder 1.350,00 € zzgl. MwSt. für 2 Tage pro Person, inkl. Tagungsgetränke, Mittagessen und Seminarunterlagen.
Für EMVA Mitglieder gewähren wir einen Rabatt von 100,00 € und für Universitäten einen Rabatt von 200,00 €.

Termin und Ort

06.12.2016 - 10:00 bis 17:00 Uhr
07.12.2016 - 09:00 bis 17:00 Uhr

FRAMOS Office Taufkirchen:
Mehlbeerenstr. 2, 4.OG, 82024 Taufkirchen

Wir bitten Sie, sich bei Interesse so schnell wie möglich, spätestens aber bis Dienstag, den 24. November verbindlich für das Seminar anzumelden.

Anmeldung

Ja, ich möchte gerne am folgenden FRAMOS Seminar teilnehmen:
Charakterisierung digitaler Kamerasysteme nach EMVA 1288 Standard 3.1, mit Prof. Dr. Bernd Jähne

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